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代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測(cè)厚儀、相位差膜設(shè)備等）、USHIO牛尾點(diǎn)光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測(cè)器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺(tái)階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機(jī)、NEWKON新光、TOKISANGYO東機(jī)產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計(jì)裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機(jī)、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機(jī)、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.
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OTSUKA大塚電子MCPD-6800多通道光譜儀塔瑪薩崎電子代理這是一款多通道多通道光譜儀，適用于紫外到近紅外范圍。 光譜測(cè)量可在短短 5 ms 內(nèi)完成。 標(biāo)準(zhǔn)儀器的光纖允許各種測(cè)量系統(tǒng)，而無需指定樣品種類。 除了顯微光譜、光源發(fā)光、透射和反射測(cè)量外，它還可以與軟件結(jié)合使用，以評(píng)估物體的顏色和薄膜厚度。
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OTSUKA大塚電子MCPD-9800多通道光譜儀塔瑪薩崎電子代理這是一款多通道多通道光譜儀，適用于紫外到近紅外范圍。 光譜測(cè)量可在短短 5 ms 內(nèi)完成。 標(biāo)準(zhǔn)儀器的光纖允許各種測(cè)量系統(tǒng)，而無需指定樣品種類。 除了顯微光譜、光源發(fā)光、透射和反射測(cè)量外，它還可以與軟件結(jié)合使用，以評(píng)估物體的顏色和薄膜厚度。
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OTSUKA大塚電子OPTM-A3光學(xué)測(cè)量膜厚計(jì)塔瑪薩崎電子用簡(jiǎn)單操作實(shí)現(xiàn)了高精度的光干涉法的膜厚測(cè)量的小型低價(jià)格的膜厚計(jì)。采用了將必要的機(jī)器收納在本體部的多功能一體式機(jī)箱，實(shí)現(xiàn)了穩(wěn)定的數(shù)據(jù)獲取。雖然價(jià)格低，但通過取得**反射率，也可以分析光學(xué)常數(shù)。
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OTSUKA大塚電子OPTM-A2光學(xué)測(cè)量膜厚計(jì)塔瑪薩崎電子用簡(jiǎn)單操作實(shí)現(xiàn)了高精度的光干涉法的膜厚測(cè)量的小型低價(jià)格的膜厚計(jì)。采用了將必要的機(jī)器收納在本體部的多功能一體式機(jī)箱，實(shí)現(xiàn)了穩(wěn)定的數(shù)據(jù)獲取。雖然價(jià)格低，但通過取得**反射率，也可以分析光學(xué)常數(shù)。
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OTSUKA大塚電子OPTM-A1光學(xué)測(cè)量膜厚計(jì)塔瑪薩崎電子用簡(jiǎn)單操作實(shí)現(xiàn)了高精度的光干涉法的膜厚測(cè)量的小型低價(jià)格的膜厚計(jì)。采用了將必要的機(jī)器收納在本體部的多功能一體式機(jī)箱，實(shí)現(xiàn)了穩(wěn)定的數(shù)據(jù)獲取。雖然價(jià)格低，但通過取得**反射率，也可以分析光學(xué)常數(shù)。
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OTSUKA大塚電子FE-300F光學(xué)測(cè)量膜厚計(jì)塔瑪薩崎電子用簡(jiǎn)單操作實(shí)現(xiàn)了高精度的光干涉法的膜厚測(cè)量的小型低價(jià)格的膜厚計(jì)。采用了將必要的機(jī)器收納在本體部的多功能一體式機(jī)箱，實(shí)現(xiàn)了穩(wěn)定的數(shù)據(jù)獲取。雖然價(jià)格低，但通過取得**反射率，也可以分析光學(xué)常數(shù)。
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OTSUKA大塚電子ELSZneo粒徑儀 帶AS50塔瑪薩崎電子代理ELSZneo通過光散射評(píng)估物理性能到一個(gè)新的階段。除了在稀溶液~濃溶液中測(cè)量zeta電位和粒徑外，還可以測(cè)量分子量。 作為一項(xiàng)新功能，采用了多角度測(cè)量來提高粒度分布的分離能力。 它還可用于凝膠的顆粒濃度測(cè)量、微流變測(cè)量和網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)分析。
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OTSUKA大塚電nanoSAQLA粒徑儀塔瑪薩崎電子代理ELSZneo通過光散射評(píng)估物理性能到一個(gè)新的階段。除了在稀溶液~濃溶液中測(cè)量zeta電位和粒徑外，還可以測(cè)量分子量。 作為一項(xiàng)新功能，采用了多角度測(cè)量來提高粒度分布的分離能力。 它還可用于凝膠的顆粒濃度測(cè)量、微流變測(cè)量和網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)分析。
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OTSUKA大塚電子ELSZneoSE粒徑儀塔瑪薩崎電子代理ELSZneo通過光散射評(píng)估物理性能到一個(gè)新的階段。除了在稀溶液~濃溶液中測(cè)量zeta電位和粒徑外，還可以測(cè)量分子量。 作為一項(xiàng)新功能，采用了多角度測(cè)量來提高粒度分布的分離能力。 它還可用于凝膠的顆粒濃度測(cè)量、微流變測(cè)量和網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)分析。
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OTSUKA大塚電子ELSZneo粒徑儀塔瑪薩崎電子代理ELSZneo通過光散射評(píng)估物理性能到一個(gè)新的階段。除了在稀溶液~濃溶液中測(cè)量zeta電位和粒徑外，還可以測(cè)量分子量。 作為一項(xiàng)新功能，采用了多角度測(cè)量來提高粒度分布的分離能力。 它還可用于凝膠的顆粒濃度測(cè)量、微流變測(cè)量和網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)分析。
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塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司江蘇代理OTSUKA大塚電子晶圓測(cè)厚系統(tǒng) GS-300實(shí)現(xiàn)嵌入晶圓中的布線圖案的圖案對(duì)齊 GS-300滿足半導(dǎo)體工藝的高通量需求 GS-300支持凹口對(duì)齊功能
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塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚電子SF-3晶圓非破壞性測(cè)厚儀SF-3以超高速實(shí)時(shí)和高精度測(cè)量晶圓和樹脂的非接觸研磨和拋光過程。SF-3/200 SF-3/300 SF-3/800 SF-3/1300
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塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚電子SF-3晶圓非破壞性測(cè)厚儀SF-3以超高速實(shí)時(shí)和高精度測(cè)量晶圓和樹脂的非接觸研磨和拋光過程。
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OTSUKA大塚電子橢圓偏振光譜儀代理 FE-5000S塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司 FE-5000S除了可實(shí)現(xiàn)高精度薄膜分析的橢圓偏振光譜外， FE-5000S還可以通過實(shí)施自動(dòng)可變測(cè)量角度機(jī)制來處理所有類型的薄膜。 除了傳統(tǒng)的旋轉(zhuǎn)分析儀方法外，通過安裝自動(dòng)延遲板分離機(jī)構(gòu)提高了測(cè)量精度。
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OTSUKA大塚電子橢圓偏振光譜儀代理 FE-5000塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司 FE-5000除了可實(shí)現(xiàn)高精度薄膜分析的橢圓偏振光譜外， FE-5000還可以通過實(shí)施自動(dòng)可變測(cè)量角度機(jī)制來處理所有類型的薄膜。 除了傳統(tǒng)的旋轉(zhuǎn)分析儀方法外，通過安裝自動(dòng)延遲板分離機(jī)構(gòu)提高了測(cè)量精度。
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塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司OTSUKA大塚電子MCPD-6800中國(guó)代理多通道光譜儀這是一款多通道多通道光譜儀，適用于紫外到近紅外范圍。 除了顯微光譜、光源發(fā)光、透射和反射測(cè)量外，它還可以與軟件結(jié)合使用，以評(píng)估物體的顏色和薄膜厚度。
